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一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪

摘要

本实用新型提供一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪,包括X射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器,还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台,荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和若干通光孔,衍射样品托盘上设有与若干通光孔一一对应的若干衍射分析样品槽,一步进电机通过一旋转杆连接双层旋转台;X射线衍射分析组件包括准直调节模块和衍射探测模块,衍射样品托盘位于准直调节模块和衍射探测模块之间,荧光探测器位于X射线发生器和荧光样品托盘之间,荧光分析样品槽朝向荧光探测器设置。本实用新型的有益效果:集X射线荧光分析和X射线衍射分析于一体且能够一次性容纳多种样品。

著录项

  • 公开/公告号CN207263670U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国地质大学(武汉);

    申请/专利号CN201720915830.6

  • 申请日2017-07-26

  • 分类号

  • 代理机构武汉知产时代知识产权代理有限公司;

  • 代理人郝明琴

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号

  • 入库时间 2022-08-22 04:42:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N23/223 授权公告日:20180420 终止日期:20180726 申请日:20170726

    专利权的终止

  • 2018-04-20

    授权

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