首页> 中国专利> 一种载流子增强型MOS结构

一种载流子增强型MOS结构

摘要

本实用新型提供了一种载流子增强型MOS结构,包括一具有第一掺杂型的衬底,及在衬底内形成的具有第二掺杂型的源区和漏区,其特征在于:所述源区及所述漏区之间开设有沟槽,所述沟槽内设置有负膨胀应力增强层,所述负膨胀应力增强层与所述沟槽内壁贴合。该结构不仅可以做到隔离沟槽的作用,而且还可以为MOS提供应力,负膨胀应力增强层在低温下,可以膨胀激发电子迁移活力,从而增强MOS的迁移率。

著录项

  • 公开/公告号CN206432266U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2017-08-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州通富超威半导体有限公司;

    申请/专利号CN201621474548.0

  • 发明设计人 宋超;

    申请日2016-12-30

  • 分类号

  • 代理机构南京苏科专利代理有限责任公司;

  • 代理人陈忠辉

  • 地址 215000 江苏省苏州市苏州工业园区苏桐路88号

  • 入库时间 2022-08-22 02:53:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-22

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号