首页> 中国专利> 点样仪的双闭环反馈定位控制系统

点样仪的双闭环反馈定位控制系统

摘要

本实用新型涉及一种点样仪的双闭环反馈定位控制系统,由内环反馈补偿系统及外环反馈补偿系统构成,由内环反馈补偿系统作点样针的初步定位校正,由外环反馈补偿系统对点样针定位作校正补偿,消除了点样针的定位误差,提高点样仪点样针的定位精度,提高点样基片微阵列的规整度,点样效果的归一性较好;同时,双闭环反馈定位控制确保定位判断的成功,提高了系统的运行稳定性、可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN202886933U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2013-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡国盛精密模具有限公司;

    申请/专利号CN201220145567.4

  • 发明设计人 王振宇;魏显东;戴良;

    申请日2012-04-10

  • 分类号G05B19/19(20060101);

  • 代理机构宜兴市天宇知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人蔡凤苞

  • 地址 214024 江苏省无锡市南长区扬名高新技术产业园B区088号

  • 入库时间 2022-08-21 23:45:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-04-17

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号