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点样仪的双闭环反馈定位控制系统及控制方法

摘要

本发明涉及一种点样仪的双闭环反馈定位控制系统及控制方法,由内环反馈补偿系统及外环反馈补偿系统构成,由内环反馈补偿系统作点样针的初步定位校正,由外环反馈补偿系统对点样针定位作校正补偿,消除了点样针的定位误差,提高点样仪点样针的定位精度,提高点样基片微阵列的规整度,点样效果的归一性较好;同时,双闭环反馈定位控制确保定位判断的成功,提高了系统的运行稳定性、可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN102637018A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-08-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡国盛精密模具有限公司;

    申请/专利号CN201210101102.3

  • 发明设计人 王振宇;魏显东;戴良;

    申请日2012-04-10

  • 分类号

  • 代理机构宜兴市天宇知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人蔡凤苞

  • 地址 214024 江苏省无锡市南长区扬名高新技术产业园B区088号

  • 入库时间 2023-12-18 06:16:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-06-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G05B19/414 申请公布日:20120815 申请日:20120410

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-10-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05B19/414 申请日:20120410

    实质审查的生效

  • 2012-08-15

    公开

    公开

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