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具有较高静电击穿电压的GaN基LED

摘要

本实用新型提供了一种具有较高静电击穿电压的GaN基LED,其结构自下至上依次包括SiC或Si衬底、AlN缓冲层、N型GaN层、MQW层和P型GaN层,N型GaN层中设有一层厚度为20nm-100nm的AlGaN插入层。本实用新型是通过改变衬底材料和LED的生长结构,在SiC、Si衬底上直接在生长N型GaN层时插入一层AlGaN,从根本上增强发光二极管芯片的抗击穿电压,由于NGaN层本身较厚,插入AlGaN层时只需要引入TMA1,生长非常容易实现,反向抗静电能力由普通结构的500V-1000V提高到了2000V-4000V,反向击穿电压由原来的15V提高到30V,亮度由50-80mcd提高到了80-100mcd。

著录项

  • 公开/公告号CN201749864U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2011-02-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东华光光电子有限公司;

    申请/专利号CN201020167238.0

  • 申请日2010-04-23

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 250101 山东省济南市高新区天辰大街1835号

  • 入库时间 2022-08-21 23:16:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-06-18

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L33/14 授权公告日:20110216 终止日期:20130423 申请日:20100423

    专利权的终止

  • 2011-02-16

    授权

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