用于芯片测试机上的模拟数字混合信号芯片测试卡

摘要

本实用新型涉及一种用于芯片测试机上的模拟数字混合信号芯片测试卡，该芯片测试卡设有芯片测试电路，芯片测试电路的系统接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块通过数字信号输出端与数模转换模块的输入端相连接，通过控制端与被测芯片载板相连接，数模转换模块的输出端与被测芯片载板的模拟信号输入端相连接，被测芯片载板的数字信号输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本实用新型设计合理，具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点，满足了对模拟数字混合信号芯片的测试需要，同时，本芯片测试卡还可以与其他类型测试卡或功能板卡配合使用，实现了对不同类型芯片的测试需要。