基于数字逻辑ATE的非接触射频卡芯片测试系统的研究与开发

摘要

本论文为解决非接触卡芯片的射频测试问题，在传统数字逻辑ATE(AutoTestEquipment)的基础上，设计开发了一个射频测试接口硬件模块，实现了逻辑ATE的数字信号与射频信号的转换；并充分利用ATE本身所具有的强大逻辑测试向量生成能力及软件编程环境，结合射频测试接口模块，完成了射频测试中所需要解决的信号编码与解码，信号调制与解调等一系列问题，构成一个适用于非接触卡射频通信测试的完整测试系统。 作为非接触卡测试系统开发的探索，论文中实现了以IS014443TYPEA非接触智能卡为测试应用对象的实验性测试系统的硬件搭建，开发了射频测试向量生成，返回信号的解调处理等软件工具，建立了完整的非接触卡芯片测试开发流程，实现了样片的实际测试应用。该测试系统的RF测试接口的设计灵活，可灵活应用于13．56MHz载波频率的非接触卡芯片的射频信号的发送和接收，信号的编码和解码由软件方法在逻辑ATE中实现，因此适用于采用不同编码方式的芯片类型的测试。 该测试系统的开发实现，解决了数字逻辑ATE无法进行非接触卡类产品射频通信测试的难题，避免了通过购买专用射频测试仪进行非接触卡类产品测试而所需的昂贵成本，从而为接触卡类产品测试提供了一个低成本解决方案。

目录

摘要

第一章 引言

第二章ISO14443非接触智能IC卡简述

第三章系统概述

第四章硬件设计与实现

第五章信号调制与解调的实现

第六章系统调试验证及实例程序开发

第七章结论与展望

致谢

参考文献

论文独创性声明及论文使用授权声明