半导体激光器特性参数测试装置

摘要

本实用新型提供一种半导体激光器特性参数测试装置，包括测试仪，其特征在于：增设恒流源电路，包括集成运放U2～3、MOS管TQ3～4和继电器J1～3，其中继电器J1～3接测试仪的数字控制信号输出端，集成运放U2的反向输入端对应经电阻R1接地、经电阻R2接其输出端及集成运放U3A的正向输入端，集成运放U2的正向输入端对应经电阻R3接测试仪的恒流信号设定输出端，输入的信号经集成运放U2～3放大、并控制MOS管TQ3～4的G极与S极之间电压达到控制恒流源输出的电流，此电流经过继电器J1输入到被测温敏电阻W上，通过温敏电阻W的阻值即可得到现在的温度。这样流过温敏电阻W的电流可调，而不受电源的限制，不管温敏电阻W值怎样变化其取样电压值都是成比例变化的，灵敏度大大提高。