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改善HDP PSG工艺的方法及金属沉积前的介电质层制造方法

摘要

本发明提供了一种改善HDP?PSG工艺的方法及金属沉积前的介电质层制造方法。所述改善HDP?PSG工艺的方法包括:执行清洗,以去除腔室中的累积薄膜;进行预沉积,以形成特定的腔室气氛,并且,在预沉积之后实施氢气钝化处理,使腔室达到H原子饱状态;依次针对多个晶圆执行高密度等离子体淀积以淀积磷硅玻璃层。

著录项

  • 公开/公告号CN103646916B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201310625737.8

  • 发明设计人 顾梅梅;侯多源;陈建维;张旭升;

    申请日2013-11-28

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陆花

  • 地址 201203 上海市浦东新区高科技园区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 09:37:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-23

    授权

    授权

  • 2014-04-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20131128

    实质审查的生效

  • 2014-03-19

    公开

    公开

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