公开/公告号CN103137581B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-02-10
原文格式PDF
申请/专利权人 矽品精密工业股份有限公司;
申请/专利号CN201110455022.3
申请日2011-12-30
分类号
代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;
代理人程伟
地址 中国台湾台中市
入库时间 2022-08-23 09:35:33
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-02-10
授权
授权
2013-07-10
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/48 申请日:20111230
实质审查的生效
2013-06-05
公开
公开
机译: 电磁辐射检测装置具有导电触点,该导电触点包括允许电荷在导电凸块和P型半导体衬底之间通过的P型区域以及与凸块接触设置的N型区域
机译: 电磁辐射检测装置具有导电触点,该导电触点包括允许电荷在导电凸块和P型半导体衬底之间通过的P型区域以及与凸块接触设置的N型区域
机译: 用于例如半导体的半导体封装电子系统,具有上部半导体器件,该上部半导体器件包括导电凸块,该导电凸块将插入件上表面上的焊盘连接到器件下表面上的相应端子