首页> 中国专利> 包括带电结构的半导体器件及用于制造半导体器件的方法

包括带电结构的半导体器件及用于制造半导体器件的方法

摘要

本发明涉及包括带电结构的半导体器件及用于制造半导体器件的方法。一种半导体器件,包括从表面延伸进入半导体主体的漂移区的沟槽区。所述半导体器件进一步包括沿着所述沟槽区的横向侧延伸的介电结构,其中所述介电结构的一部分是带电绝缘结构。所述半导体器件进一步包括在所述沟槽区中的栅电极以及具有不同于所述漂移区的导电类型的主体区。所述带电绝缘结构邻接所述漂移区、所述主体区和所述介电结构的每一者且进一步邻接所述介电结构的栅电介质底侧或置于其下方。

著录项

  • 公开/公告号CN103337518B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-02-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英飞凌科技奥地利有限公司;

    申请/专利号CN201310159279.3

  • 发明设计人 F·希尔勒;M·聪德尔;

    申请日2013-03-15

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人马永利

  • 地址 奥地利菲拉赫

  • 入库时间 2022-08-23 09:35:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L29/78 授权公告日:20160217 终止日期:20190315 申请日:20130315

    专利权的终止

  • 2016-02-17

    授权

    授权

  • 2013-11-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20130315

    实质审查的生效

  • 2013-10-02

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号