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大口径光学元件表面损伤检测装置和相应的检测方法

摘要

本发明公开了一种大口径光学元件表面损伤检测装置,该装置主要包括:专用夹具,对待检测光学元件进行定位和夹紧;激光自准直仪,安装于可检测到待检测光学元件的位置,用于检测待检测光学元件的姿态信息;线阵相机组件,安装于可观测到待检测光学元件的位置,用于获取待检测光学元件表面局部缩小的线阵图像;显微镜组件,安装于可观测到待检测光学元件的位置,用于获取待检测光学元件表面局部放大的面阵图像;扫描聚焦组件,对于待检测光学元件表面进行扫描、定位和聚焦;数据采集处理系统,对于专用夹具和扫描聚焦组件的运动进行控制,并对接收到的图像进行存储、处理和图像损伤信息分析。本发明具有广泛的应用前景和可观的社会经济效益。

著录项

  • 公开/公告号CN103674977B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN201310723796.9

  • 发明设计人 史亚莉;张正涛;张峰;陶显;徐德;

    申请日2013-12-24

  • 分类号G01N21/958(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人宋焰琴

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村东路95号

  • 入库时间 2022-08-23 09:34:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    授权

    授权

  • 2014-04-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/958 申请日:20131224

    实质审查的生效

  • 2014-03-26

    公开

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