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形成绝缘体上III/V族上锗结构的方法

摘要

一种形成绝缘体上III/V族上锗结构的方法。本发明涉及形成绝缘体上半导体结构(10)的方法,所述绝缘体上半导体结构(10)包括III/V族材料的半导体层(3),其特征在于,该方法包括以下步骤:(a)在施主基板(1)上生长松弛锗层(2);(b)在锗层(2)上生长至少一个III/V族材料层(3);(c)在松弛锗层(2)中形成解理面(6);(d)将施主基板(1)的解理部分转移到支撑基板(4),该解理部分是施主基板(1)在解理面(6)处解理的、包括至少一个III/V族材料层(3)的部分。本发明还涉及绝缘体上III/V族上锗结构、NFET晶体管、制造NFET晶体管的方法、PFET晶体管和制造PFET晶体管的方法。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    授权

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  • 2012-11-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/762 申请日:20120201

    实质审查的生效

  • 2012-10-03

    公开

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