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一种硅PIN半导体探测器漏电流检测仪及其检测方法

摘要

本发明公开了一种硅PIN半导体探测器漏电流检测仪及其检测方法。本发明的漏电流检测仪包括:可调负高压电源模块、探测器偏压测量模块、取样电阻网络及探测器漏电流测量模块;取样电阻网络包括第一、第二和第三电阻R1、R2和R3;R2和R3串联,然后与R1并联;并且设置两组开关,分别测量不同范围的漏电流。本发明对硅PIN半导体探测器的特性进行了针对性设计,具有测量极小漏电流(0.1nA)、大漏电流范围(0.1nA到200μA)、检测击穿电压等功能,另外具有测试环境简单、使用方便、测量准确、成本低廉等特点,非常方便硅PIN半导体探测器的筛选和长期老化测试。

著录项

  • 公开/公告号CN103323764B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-09-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN201310268800.7

  • 申请日2013-06-28

  • 分类号

  • 代理机构北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王岩

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2022-08-23 09:29:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-23

    授权

    授权

  • 2013-10-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20130628

    实质审查的生效

  • 2013-09-25

    公开

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