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低缺陷密度的独立式氮化镓基底的制造以及由其制造的器件

摘要

本发明涉及一种方法,用于通过外延生长来在包含一个生长面(105)的一个支持物(100)上制造氮化物单晶,该方法包括以下步骤:在该支持物(100)上形成一个牺牲性床(101),在所述牺牲性床上形成多个柱(102),所述这些柱是由一种与GaN外延生长相容的材料制成的,在以下生长条件下在这些柱上生长一个氮化物晶体层(103),这些生长条件使得该氮化物晶体层不会向下延伸至这些柱之间形成的多个洞(107)内的支持物上,从该支持物上移除该氮化物晶体层。

著录项

  • 公开/公告号CN102257189B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 圣戈班晶体及检测公司;

    申请/专利号CN200880132273.4

  • 发明设计人 B·贝奥姆特;J-P·法利尔;

    申请日2008-12-24

  • 分类号C30B25/02(20060101);C30B25/18(20060101);C30B29/40(20060101);H01L21/205(20060101);H01L21/20(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人章蕾

  • 地址 法国库伯瓦

  • 入库时间 2022-08-23 09:28:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-19

    授权

    授权

  • 2012-01-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B 25/02 申请日:20081224

    实质审查的生效

  • 2011-11-23

    公开

    公开

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