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超薄氧化层的激光处理生长方法及装置

摘要

本发明公开一种超薄氧化层的激光处理生长方法,为解决现有超薄氧化层生长厚度难以精确控制等问题而发明。本发明超薄氧化层的激光处理生长方法为在硅片的浅表面引入氧化剂后对该硅片进行激光照射,通过激光给能促使化学反应发生而形成超薄氧化层。氧化剂的引入方法为:将硅片放置在氧化性气氛中;或,对硅片浅表面进行低能离子注入氧元素;亦或,在硅片浅表面内低能离子注入氧元素后将该硅片放置在氧化性气氛中。本发明超薄氧化层的激光处理生长装置包括进气孔、出气孔、密封工艺腔室、载片台、激光器和透明窗口。本发明超薄氧化层的激光处理生长方法及装置结构合理,使用方便,可生成质量好的薄氧化层,适用于多种半导体器件中薄氧化层的制备。

著录项

  • 公开/公告号CN102945798B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201210426177.9

  • 发明设计人 严利人;刘志弘;张伟;周卫;韩冰;

    申请日2012-10-30

  • 分类号

  • 代理机构北京中伟智信专利商标代理事务所;

  • 代理人张岱

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园1号

  • 入库时间 2022-08-23 09:27:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-29

    授权

    授权

  • 2013-04-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/268 申请日:20121030

    实质审查的生效

  • 2013-02-27

    公开

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