首页> 中国专利> 形成QFN集成电路封装的可焊接侧表面端子的方法

形成QFN集成电路封装的可焊接侧表面端子的方法

摘要

本发明揭示一种形成集成电路(IC)封装的方法,其包含:(a)从所述IC封装的端子的侧表面移除氧化物;(b)大致覆盖所述IC封装的所述端子的底侧;以及(c)在覆盖所述IC封装的所述端子的所述底侧的同时,在所述IC封装的端子的所述侧表面上形成焊料涂层。所述端子的所述侧表面上的所述焊料涂层保护所述端子免受因老化和后续过程所致的氧化。另外,所述端子的所述侧表面上的所述焊料涂层大致改善所述IC封装到印刷电路板(PCB)或其它安装件的可焊接性。此进一步促进使用较不昂贵且较不复杂的方法对焊料附接的检验。

著录项

  • 公开/公告号CN102024721B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 马克西姆综合产品公司;

    申请/专利号CN201010248616.2

  • 发明设计人 肯尼思·J·许宁;

    申请日2010-08-06

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人邬少俊

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:27:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-01

    授权

    授权

  • 2012-11-21

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 21/60 变更前: 变更后: 申请日:20100806

    著录事项变更

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20100806

    实质审查的生效

  • 2011-04-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号