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提高直拉单晶硅轴向电阻率均匀性的方法及得到的单晶硅

摘要

本发明公开了一种提高直拉单晶硅轴向电阻率均匀性的方法,包括如下步骤:(1)将多晶硅原料以及固体掺杂剂在氩气气氛下熔融,得到稳定的熔硅;(2)在稳定的熔硅中引入籽晶,晶体生长经缩颈、放肩过程,进入等径生长阶段;(3)在等径生长阶段,通入和所述固体掺杂剂导电类型相反的掺杂气体,直至直拉单晶硅生长完成。本发明提高直拉单晶硅轴向电阻率均匀性的方法中掺杂气体的种类和用量方便控制,可以得到各种所需的杂质浓度分布;直拉硅单晶的利用率得到提高;显著改善了直拉单晶硅的电阻率均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN102912424B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201210382987.9

  • 申请日2012-10-10

  • 分类号

  • 代理机构杭州天勤知识产权代理有限公司;

  • 代理人胡红娟

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-13

    授权

    授权

  • 2013-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B 15/00 申请日:20121010

    实质审查的生效

  • 2013-02-06

    公开

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