首页> 中国专利> 双轴张应变GeSn n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管

双轴张应变GeSn n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管

摘要

本发明提供一种带有双轴张应变的GeSnn沟道MOSFET。该MOSFET(10)包括衬底(101)、源极和漏极(102,103)、GeSn沟道(104)、绝缘介电质薄膜(105)以及栅电极(106)。源漏区域材料的晶格常数比GeSn沟道材料的晶格常数大,GeSn沟道形成XY面内的双轴张应变。这种应变有利于沟道GeSn材料由间接带隙结构变为直接带隙结构,电子迁移率大大提高,从而提高MOSFET性能。

著录项

  • 公开/公告号CN103730507B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN201310752794.2

  • 发明设计人 刘艳;韩根全;刘明山;

    申请日2013-12-31

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L29/10(20060101);H01L29/161(20060101);

  • 代理机构50123 重庆华科专利事务所;

  • 代理人康海燕

  • 地址 400030 重庆市沙坪坝区沙正街174号

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-20

    授权

    授权

  • 2014-05-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20131231

    实质审查的生效

  • 2014-05-14

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 29/78 变更前: 变更后: 申请日:20131231

    著录事项变更

  • 2014-04-16

    公开

    公开

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