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大口径光学元件表面微缺陷修复用二维大行程联动装置

摘要

大口径光学元件表面微缺陷修复用二维大行程联动装置,涉及大口径光学元件表面微缺陷修复用联动装置。该装置在大型高精度隔振平台上可实现二维联动,用以辅助晶体表面微缺陷的快速探测、精确定位、循环扫描等后续修复工作。X轴直线单元固定在精密平台上,X轴导轨连接板固定在X轴直线单元运动部件上;步进电机驱动X轴直线单元运动部件运动,Y轴导轨连接板固定在Y轴直线单元运动部件上;Y轴直线单元固定在Y轴导轨托盘中,Y轴导轨托盘与X轴导轨连接板定位连接,Y轴导轨托盘另一端为气浮端,气浮框架通过柔性铰链与Y轴导轨连接板连接。本发明用以辅助实现大口径光学元件晶体表面微缺陷修复时的微缺陷快速探测、精确定位与循环扫描等功能。

著录项

  • 公开/公告号CN103713102B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201310744567.5

  • 申请日2013-12-30

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人高媛

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-29

    授权

    授权

  • 2014-05-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 33/00 申请日:20131230

    实质审查的生效

  • 2014-04-09

    公开

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