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一种用于大规模FPGA设计中的调试方法

摘要

本发明提供一种用于大规模FPGA设计的调试方法,主要目的是提供一种比较通用的调试的方法,从而节省FPGA原型调试的时间,提高FPGA原型调试时的效率。主要原理是设计出一个冗余的控制逻辑,主机端通过UART接口操作配置控制逻辑的相应寄存器,实现外部测试管脚选择连接到某个FPGA芯片内部待测信号。该方法结构简单,易于实现,通过一个外部测试管脚可以对FPGA芯片多个内部待测信号进行测试,可以在测试中自由选择某些FPGA芯片内部待测信号,而不需要提前设置信号分组。

著录项

  • 公开/公告号CN102955127B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201110254985.7

  • 发明设计人 龚永鑫;

    申请日2011-08-31

  • 分类号G01R31/3177(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100102 北京市朝阳区利泽中二路2号望京科技创业园A座五层

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/3177 变更前: 变更后: 申请日:20110831

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2015-04-22

    授权

    授权

  • 2013-04-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3177 申请日:20110831

    实质审查的生效

  • 2013-03-06

    公开

    公开

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