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利用金属氧化物选择性穿透自组装嵌段共聚物的方法,形成金属氧化物结构的方法和包括其的半导体结构

摘要

本发明揭示形成金属氧化物结构的方法和使用经调配用于自组装的嵌段共聚物系统在衬底上形成金属氧化物图案的方法。所述金属氧化物结构和图案可用作(例如)掩模用于半导体装置制造的不同阶段期间的亚光刻图案化。在所述衬底的沟槽内且包括至少一个可溶嵌段和至少一个不可溶嵌段的嵌段共聚物可经退火以形成自组装图案,所述自组装图案包括多个与所述沟槽横向对准且位于所述不可溶嵌段基质内的所述可溶嵌段的重复单元。可将所述自组装图案暴露于浸渍所述可溶嵌段的金属氧化物前体。所述金属氧化物前体可经氧化以形成金属氧化物。可去除所述自组装图案,以在所述衬底表面上形成金属氧化物线图案。

著录项

  • 公开/公告号CN102196991B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN200980143002.3

  • 申请日2009-10-26

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人宋献涛

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-30

    授权

    授权

  • 2011-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):C01B 13/14 申请日:20091026

    实质审查的生效

  • 2011-09-21

    公开

    公开

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