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有具逐渐成形构造的嵌入应变引发材料的晶体管

摘要

在晶体管中,通过提供随后填入应变引发半导体合金(例如,硅/锗、硅/碳及其类似物)的逐渐成形空腔,可安置极接近沟道区的应变引发半导体合金。为此目的,可使用两个或更多有不同蚀刻性能的“用完即弃型”间隔组件以便定义对应空腔在不同的深度有不同的横向偏移。结果,即使对于精密半导体装置,仍可实现增强的均匀性,从而减少晶体管变异性。

著录项

  • 公开/公告号CN102362344B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-03-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 先进微装置公司;

    申请/专利号CN200980157544.6

  • 申请日2009-12-29

  • 分类号H01L21/8234(20060101);H01L21/8238(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11314 北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟;王锦阳

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-13

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/8234 登记生效日:20170525 变更前: 变更后: 申请日:20091229

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-03-19

    授权

    授权

  • 2012-04-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/8234 申请日:20091229

    实质审查的生效

  • 2012-03-07

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L 21/8234 变更前: 变更后: 变更前:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-02-22

    公开

    公开

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