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一种在(111)型硅片表面制备纳米结构的方法

摘要

本发明涉及一种在(111)型硅片表面制备纳米结构的方法,属于纳米技术领域。其特征在于利用硅材料的各向异性湿法腐蚀特性在(111)硅片表面制备特征尺寸为纳米量级的单晶硅纳米墙结构或纳米角结构,或者结合自限制氧化工艺进一步制备截面呈倒三角形的单晶硅纳米线结构。本发明工艺简单,仅涉及常规光刻、各向异性湿法腐蚀掩膜制作、腐蚀、刻蚀工艺,可实现大规模制作,是一种方便的微纳集成工艺技术。本发明制作的纳米结构,可用于研究低维单晶硅材料结构性质,包括力学、热学、电学等性能的研究,还可以作为传感器功能结构部件,具有应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN102437017B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201110297803.4

  • 发明设计人 金钦华;俞骁;李铁;王跃林;

    申请日2011-09-30

  • 分类号

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人潘振甦

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/02 授权公告日:20140312 终止日期:20150930 申请日:20110930

    专利权的终止

  • 2014-03-12

    授权

    授权

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20110930

    实质审查的生效

  • 2012-05-02

    公开

    公开

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