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微机电系统芯片穿透硅通孔封装技术的制作工艺

摘要

本发明公开了一种微机电系统芯片穿透硅通孔封装技术的制作工艺,采用电镀和化学镀工艺,利用无氰化合物材料在金属线路和BGA焊垫的镍金属层上涂覆锡金属层来取代用氰化合物材料而涂覆的金层,并作为保护层和可焊层,由于镍金属层的隔离保护,可以有效减少锡晶须的发生,线路及BGA焊垫表面为锡层,具有优良的可焊性,既节约成本,又利于环保。

著录项

  • 公开/公告号CN101870447B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-03-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 昆山西钛微电子科技有限公司;

    申请/专利号CN200910031521.2

  • 发明设计人 陈闯;

    申请日2009-04-22

  • 分类号

  • 代理机构昆山四方专利事务所;

  • 代理人盛建德

  • 地址 215316 江苏省昆山市开发区高科技工业园环庆路2588号,7号楼

  • 入库时间 2022-08-23 09:17:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B81C 1/00 授权公告日:20140305 终止日期:20160422 申请日:20090422

    专利权的终止

  • 2014-03-05

    授权

    授权

  • 2012-03-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C 1/00 申请日:20090422

    实质审查的生效

  • 2010-10-27

    公开

    公开

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