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用于重金属检测的镀铋金微阵列电极的制作及检测方法

摘要

本发明涉及一种用于重金属检测的镀铋金微阵列电极的制作和检测方法,其特征在于金微阵列电极的制作机器镀铋工艺,镀铋工艺采用0.015mol/LBi(NO

著录项

  • 公开/公告号CN102323314B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201110148268.6

  • 发明设计人 金庆辉;刘德盟;金妍;赵建龙;

    申请日2011-05-27

  • 分类号

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人潘振甦

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-13

    授权

    授权

  • 2012-03-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/30 申请日:20110527

    实质审查的生效

  • 2012-01-18

    公开

    公开

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