首页> 中国专利> 光学设备和原位处理EUV光学部件以增强降低的反射率的方法

光学设备和原位处理EUV光学部件以增强降低的反射率的方法

摘要

本发明涉及光学设备和原位处理所述光学设备中的反射EUV和/或软X射线辐射的光学部件(2,6,13)的方法,所述光学部件(2,6,13)设置在所述光学设备的真空室(14)中并且包括一个或多个具有一种或多种表面材料的顶层的反射表面(3)。在该方法中,在所述光学设备的所述室(14)中提供所述一种或多种表面材料的源(1,5),并且在所述光学设备的操作期间和/或操作暂停期间将来自所述源(1,5)的表面材料沉积到所述一个或多个反射表面(3)上,以便覆盖或取代沉积的污染物材料和/或补偿消融的表面材料。

著录项

  • 公开/公告号CN101681114B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-05-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200780053335.8

  • 申请日2007-06-12

  • 分类号G03F7/20(20060101);G21K1/06(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人刘鹏;谭祐祥

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-23

    专利权的转移 IPC(主分类):G03F 7/20 登记生效日:20190802 变更前: 变更后: 申请日:20070612

    专利申请权、专利权的转移

  • 2019-08-23

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G03F 7/20 变更前: 变更后: 申请日:20070612

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2013-05-08

    授权

    授权

  • 2013-05-08

    授权

    授权

  • 2010-08-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/20 申请日:20070612

    实质审查的生效

  • 2010-08-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20070612

    实质审查的生效

  • 2010-03-24

    公开

    公开

  • 2010-03-24

    公开

    公开

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