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一种对容错存储单元的晶体管进行布局的方法

摘要

本发明公开了一种对容错存储单元的晶体管进行布局的方法,采用该方法的晶体管布局对应于双重互锁结构,该方法包括:在PMOS版图上放置4个PMOS管,且在中间两个PMOS管之间插入PMOS写入管和作为存储单元控制门的PMOS管;在NMOS版图上放置4个NMOS管,且两个中间NMOS管之间插入作为存储单元控制门的NMOS管;以及将上述所有PMOS管用一个保护环保护起来,并将上述所有NMOS管也用一个保护环保护起来。针对DICE结构的存储单元,本发明对SRAM单比特存储单元具有较好的容错能力,且具有一定抗多比特翻转的能力。

著录项

  • 公开/公告号CN102314538B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201110279279.8

  • 申请日2011-09-20

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-04-17

    授权

    授权

  • 2012-03-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20110920

    实质审查的生效

  • 2012-01-11

    公开

    公开

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