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一种带原位氮化硅层的低导通电阻型GaN基器件及制作方法

摘要

本发明涉及一种带原位氮化硅层的低导通电阻型GaN基器件及制作方法,方法包括:在包括衬底层、成核层、缓冲层、沟道层、插入层、势垒层和GaN帽层的外延基片上利用MOCVD沉积原位氮化硅层;在氮化硅层上刻蚀向下延伸至沟道区的凹槽;在凹槽中生长重掺杂的n+材料;制备源漏金属电极;利用刻蚀工艺去除SiN层上的n+材料;在钝化层上制备凹槽;在凹槽上制备栅电极;进行金属互连。本发明可以明显降低器件的导通电阻。

著录项

  • 公开/公告号CN114361033A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202111397913.8

  • 申请日2021-11-23

  • 分类号H01L21/335;H01L29/06;H01L29/778;

  • 代理机构西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王萌

  • 地址 710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 14:57:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-15

    公开

    发明专利申请公布

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