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纳米片场效应晶体管器件及其形成方法

摘要

本公开涉及纳米片场效应晶体管器件及其形成方法。一种形成半导体器件的方法包括:在纳米结构之上形成虚设栅极结构,其中,纳米结构在突出高于衬底的鳍上方,其中,纳米结构包括第一半导体材料和第二半导体材料的交替层;在纳米结构中在虚设栅极结构的相对侧上形成开口,这些开口暴露第一半导体材料的端部和第二半导体材料的端部;使第一半导体材料的暴露的端部凹陷,以形成第一侧壁凹部;用多层间隔件膜来填充第一侧壁凹部;去除多层间隔件膜的至少一个子层,以形成第二侧壁凹部;以及在去除至少一个子层之后,在开口中形成源极/漏极区域,其中,源极/漏极区域密封第二侧壁凹部以形成密封的气隙。

著录项

  • 公开/公告号CN114078708A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN202110690786.4

  • 发明设计人 林文凯;张哲豪;卢永诚;徐志安;

    申请日2021-06-22

  • 分类号H01L21/336(20060101);H01L29/06(20060101);

  • 代理机构11258 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人朱亦林

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2023-06-19 14:14:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/336 专利申请号:2021106907864 申请日:20210622

    实质审查的生效

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