法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-03-01
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 专利申请号:2021110266779 申请日:20210902
实质审查的生效
机译: 在Si(111)/(001)SOI衬底或Si(001)/(111)SOI衬底上连续生长GaN和GaAs表象层的方法以及使用在Si(111)上连续形成的GaN和GaAs表象层的半导体发光器件模块)/(001)由此制造的SOI基板
机译: 利用分子束外延和衬底去除技术外延生长GaAs薄膜的方法和与GaAs衬底无关的器件结构
机译: 在si衬底上生长的gaas薄膜的制备方法及在si衬底上生长的gaas薄膜的制备方法