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一种利用反卷积算法解算绝对光谱辐射量的反演方法

摘要

本发明公开了一种利用反卷积算法解算绝对光谱辐射量的反演方法。该方法利用光谱辐射测量仪器的输出信号与仪器响应函数均具有波长依赖性的特点,借助于反卷积算法,实现从光谱辐射测量仪器的输出信号中解算绝对光谱辐射量,获取光谱辐射测量仪器的测量目标光谱辐射的精确光谱信息,解决以往绝对光谱辐射量计算方法不够准确的问题。在反卷积计算过程中,利用光谱辐射测量仪器的输出信号和仪器响应函数实现绝对光谱辐射量的准确建模;通过将光谱辐射测量仪器的测量波段的波长区间沿两端进行扩展,以减少旁瓣效应,并加入区间约束;通过将修正因子转换为松弛函数,对计算结果中的噪声进行抑制;通过绝对光谱辐射量的非负性约束,保证计算结果具有物理意义;最后,采用标准差法作为判断迭代终止准则,判断计算结果是达到所需的反演精度。本发明具有算法简单和计算精度高等优点,在光辐射测量、遥感器高精度定标应用中具有广泛应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN113987403A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院合肥物质科学研究院;

    申请/专利号CN202111248575.1

  • 发明设计人 康晴;郑小兵;翁建文;黄雄豪;

    申请日2021-10-26

  • 分类号G06F17/10(20060101);G06F17/15(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人江亚平

  • 地址 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号

  • 入库时间 2023-06-19 14:01:55

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