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基于GaN基功率与射频电子的单片集成器件及其制备方法

摘要

本发明提供一种基于GaN基功率与射频电子的单片集成器件及其制备方法,该单片集成器件包括AlGaN/GaN HEMT外延片,所述AlGaN/GaN HEMT外延片上按照一定水平顺序依次设有漏金属电极、栅金属电极、源漏金属电极、T型栅金属电极和源金属电极;并且所述漏金属电极、所述源漏金属电极和所述源金属电极分别与所述AlGaN/GaN HEMT外延片的AlGaN势垒层形成欧姆接触,所述栅金属电极和所述T型栅金属电极分别与所述AlGaN/GaN HEMT外延片的AlGaN势垒层形成肖特基接触。该单片集成器件实现了单片集成器件的微型化,具有高效率、低噪声、低功耗等性能特征,并且单片集成器件制备过程简单易行,成本较低,具有很高的应用价值和经济价值。

著录项

  • 公开/公告号CN113990946A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河源市众拓光电科技有限公司;

    申请/专利号CN202111044280.2

  • 发明设计人 李国强;

    申请日2021-09-07

  • 分类号H01L29/778(20060101);H01L29/423(20060101);H01L21/335(20060101);C30B25/16(20060101);C30B28/14(20060101);C30B29/40(20060101);

  • 代理机构44326 广州容大知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新年

  • 地址 517099 广东省河源市高新技术开发区高新五路、泥金路西边

  • 入库时间 2023-06-19 14:01:55

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