一种自由曲面样品全表面分析系统

摘要

本发明公开了一种自由曲面样品全表面分析系统，适用于曲面样品全表面分析检测，包括工作台，工作台上部分别设有光学机构、光谱仪、激光器、计算机和电控箱；光学机构包括底部与工作台相连接的屏蔽罩，设于屏蔽罩内部下方、用于驱动样品进行旋转的样品旋转台，设于样品旋转台上方、与样品旋转台相对应、底部通过光学组件位移台与屏蔽罩相连接的光学组件，设于屏蔽罩背部、用于驱动光学组件旋转的光学组件旋转台，在本发明中，巧妙地设有样品旋转台、光学组件位移台和光学组件旋转台，通过样品旋转台、光学组件位移台和光学组件旋转台的配合使用，可使使用者在使用该系统对曲面样品表面进行分析时，能对球壳样品的全表面自动精确定位。