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示差折光率的测定方法、测定装置以及测定程序

摘要

使用具备双流类型的示差折光率检测部(RI检测部)的分析装置来使RI检测部的输出信号的噪声减少的方法如下:使用试样用泵(21)向试样用池(51)输送试样液,使用参照用泵(22)向参照用池(52)输送参照液,并通过光检测器(53)检测依次透过两个池(51)、(52)的光的行进方向的变化。在开始进行RI测定前,调整试样用泵(21)和参照用泵(22)的相位差。也就是说,调整两个泵(21)、(22)的相位差,以使由于来自试样用泵(21)的脉动流在试样用池(51)内传播而在光检测器(53)的输出信号中产生的噪声与由于来自参照用泵(22)的脉动流在参照用池(52)内传播而在光检测器(53)的输出信号中产生的噪声相抵消。

著录项

  • 公开/公告号CN113692531A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本分光株式会社;

    申请/专利号CN201980095200.0

  • 发明设计人 茂木智博;桑岛幹;

    申请日2019-12-10

  • 分类号G01N21/41(20060101);B01J20/291(20060101);G01N30/74(20060101);

  • 代理机构11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 13:21:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/41 专利申请号:2019800952000 申请日:20191210

    实质审查的生效

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