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混合PiN结肖特基二极管及其P型欧姆接触的制备方法

摘要

本发明提供一种混合PiN结肖特基二极管及其P型欧姆接触的制备方法,该制备方法包括:提供叠层结构,由下向上依次包括N+衬底层及N‑外延层,N‑外延层包括有源区,有源区形成有至少一个P+离子注入区;于叠层结构表面沉积防护掩膜层;采用光刻刻蚀工艺刻蚀防护掩膜层,形成至少一个刻蚀窗口,刻蚀窗口仅显露与其对应的P+离子注入区;于上述结构的表面沉积金属层并对该金属层进行欧姆接触退火;去除防护掩膜层及防护掩膜层上的金属层。通过形成图形化防护掩膜层,在欧姆接触退火过程中,其可有效防止金属层熔融侧向流动至P+离子注入区之外的区域,所以不需要额外制备大面积的P+离子注入区,从而不需要牺牲正向导通面积;且工艺简单便于控制。

著录项

  • 公开/公告号CN113675084A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海积塔半导体有限公司;

    申请/专利号CN202110976642.5

  • 发明设计人 季益静;吴贤勇;刘峰松;

    申请日2021-08-24

  • 分类号H01L21/329(20060101);H01L29/872(20060101);H01L29/868(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人贺妮妮

  • 地址 201306 上海市浦东新区云水路600号

  • 入库时间 2023-06-19 13:18:31

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