公开/公告号CN113538329A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-22
原文格式PDF
申请/专利权人 FEI 公司;
申请/专利号CN202110417779.7
申请日2021-04-19
分类号G06T7/00(20170101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);H01J37/20(20060101);H01J37/244(20060101);H01J37/26(20060101);
代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;
代理人张凌苗;周学斌
地址 美国俄勒冈州
入库时间 2023-06-19 12:56:12
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-03-21
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 专利申请号:2021104177797 申请日:20210419
实质审查的生效
机译: 一种用于使用初级带电粒子束的阵列,带电粒子束装置的用于检查样品的方法,用于使用初级带电粒子束的阵列和用于检查样品的多柱显微镜检查样品
机译: 带电粒子束装置,使用带电粒子束装置的样品处理方法以及使用带电粒子束装置的样品处理计算机程序
机译: 用于带电粒子束设备的标准样品,带电粒子束设备以及用于带电粒子束设备的标准样品的制造方法