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一种基于二维层状半导体材料的范德华异质结偏振光探测器及其制备方法

摘要

本发明公开了一种基于二维层状半导体材料的偏振光探测器及其制备方法。该偏振光探测器自下而上依次为绝缘衬底、两种二维层状半导体构成的范德华异质结、金属电极。该偏振光探测器是通过机械剥离、聚乙烯醇(PVA)干法转移、光刻、蒸镀等技术制备。区别于传统材料结构偏振光探测器,该结构器件具有高二向色性比、自供电、快速响应等优异特性。此外,此种范德华异质结偏振光探测器结构简单、小型便携、操作方便,有益于新型高偏振分辨集成光学器件的开发。

著录项

  • 公开/公告号CN113437166A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南师范大学;

    申请/专利号CN202110716606.5

  • 发明设计人 李京波;赵齐笑;陈洪宇;

    申请日2021-06-28

  • 分类号H01L31/0336(20060101);H01L31/109(20060101);H01L31/18(20060101);B82Y40/00(20110101);B82Y30/00(20110101);B82Y15/00(20110101);

  • 代理机构11344 北京市盈科律师事务所;

  • 代理人李憲璋

  • 地址 510631 广东省广州市天河区中山大道西55号

  • 入库时间 2023-06-19 12:42:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-26

    授权

    发明专利权授予

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