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功率MOSFET器件安全工作区的双栅拓宽方法及电路

摘要

一种功率MOSFET器件安全工作区的双栅拓宽方法及电路,包括在功率MOSFET器件上增设第一、第二栅总线,将功率MOSFET的一部分元胞的栅极连接于第一栅总线,将功率MOSFET的另一部分元胞的栅极连接于第二栅总线,功率MOSFET的漏极和源极分别连接所有元胞结构的漏和源。外部输入信号控制第二栅总线连接的元胞的开启与关闭,由微控制器比较MOSFET的漏极和源极电压,控制连接于第一栅总线的元胞的开启与关闭:当输入信号为高电平且当MOSFET的漏源电压高于预定电压时,开启第二栅总线连接的元胞并关闭第一栅总线连接的元胞;当输入信号为高电平且当MOSFET的漏源电压小于预设电压时,开启全部元胞。

著录项

  • 公开/公告号CN113380895A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东南大学;

    申请/专利号CN202110720060.0

  • 申请日2021-06-28

  • 分类号H01L29/78(20060101);H03K17/081(20060101);H03K17/687(20060101);

  • 代理机构32249 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人冯慧

  • 地址 211189 江苏省南京市江宁区东南大学路2号

  • 入库时间 2023-06-19 12:32:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-07-07

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L29/78 专利申请号:2021107200600 申请公布日:20210910

    发明专利申请公布后的视为撤回

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