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具有减少的处理步骤SIC电子器件的制造方法和SIC电子器件

摘要

本公开的各实施例涉及具有减少的处理步骤SIC电子器件的制造方法和SIC电子器件。一种用于制造基于SiC的电子器件的方法包括在衬底的正侧形成SiC的结构层。衬底具有沿一方向与正侧相对的背侧。电子器件的有源区域在结构层中形成,并且所述有源趋于被配置为在电子器件的使用期间生成或传导电流。第一电端子在结构层上形成并且中间层在衬底的背侧处形成。中间层通过激光束被加热用来生成局部加热,以有利于钛化合物的欧姆接触的形成。电子器件的第二电端子在中间层上被形成。

著录项

  • 公开/公告号CN113363153A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 意法半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN202110240820.8

  • 申请日2021-03-04

  • 分类号H01L21/329(20060101);H01L21/04(20060101);H01L29/45(20060101);H01L29/872(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人董莘

  • 地址 意大利阿格拉布里安扎

  • 入库时间 2023-06-19 12:29:04

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