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一种在GaAs衬底上生长GaInP薄膜的方法

摘要

本发明公开了一种在GaAs衬底上生长GaInP薄膜的方法。一、将具有2‑4º偏角的2英寸GaAs衬底清洗腐蚀;二、以金属Ga和金属In作为反应源,将Ga舟、In舟和衬底装炉并抽真空后通入H2,去除衬底表面杂质;三、将第一反应区的温度升入700‑800℃,通入HCl后,在第一反应区生成GaCl和InCl;四、将第二反应区的温度升入600‑660℃后关闭HCl,通入PH3后,在第二反应区生成GaInP薄膜;五、将第二反应区的温度降至室温后取样。采用HVPE工艺由于Ⅲ族反应源为有机源金属镓和金属铟且生长速度快,可以降低GaInP薄膜的制作成本,扩大电池的应用范围,使得太阳电池应用于地面领域成为可能。

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法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-17

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L31/0304 专利申请号:2021106119175 申请公布日:20210907

    发明专利申请公布后的视为撤回

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