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运算放大器的测试电路、测试方法以及测试装置

摘要

本申请公开了一种运算放大器的测试电路、测试方法以及测试装置,测试电路包括第一测试模块、第二测试模块和处理模块,当分别在第一测试模块和第二测试模块施加不同的第一测试电压和第二测试电压时,第一测试模块和第二测试模块分别向处理模块提供不同的第一输出电压和第二输出电压,处理模块根据第一测试电压和第二测试电压的变化量以及第一输出电压和第二输出电压的变化量可得到被测运算放大器的差模输入电阻,可以提高测试精度和测试速度,降低测试成本。

著录项

  • 公开/公告号CN113030689A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 圣邦微电子(北京)股份有限公司;

    申请/专利号CN201911253375.8

  • 发明设计人 王鸿儒;

    申请日2019-12-09

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构11449 北京成创同维知识产权代理有限公司;

  • 代理人李镇江

  • 地址 100089 北京市海淀区西三环北路87号13层3-1301

  • 入库时间 2023-06-19 11:35:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-08-22

    授权

    发明专利权授予

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