公开/公告号CN112750754A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-04
原文格式PDF
申请/专利权人 长鑫存储技术有限公司;
申请/专利号CN201911036228.5
申请日2019-10-29
分类号H01L21/768(20060101);H01L21/8242(20060101);H01L23/538(20060101);H01L27/108(20060101);
代理机构44224 广州华进联合专利商标代理有限公司;
代理人虞凌霄
地址 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
入库时间 2023-06-19 10:51:07
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-09-27
授权
发明专利权授予
机译: 在减小金属间电介质的寄生电容的同时改善接触孔填充特性的半导体器件的制造方法在减小金属间电介质的寄生电容的同时改善接触孔填充特性的半导体器件的制造方法降低金属间介电层的寄生电容的同时降低特性,同时减小p的同时改善接触孔填充特性的半导体器件的制造方法
机译: 半导体器件的制造方法,该半导体器件具有设置在形成于该半导体器件的层中的接触孔的内侧壁上的间隔物以及设置在其中的接触塞
机译: 半导体器件,其具有设置在形成于半导体器件的层中的接触孔的内侧壁上的间隔件以及布置在其中的接触塞