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半导体器件中接触孔的制作方法及半导体器件

摘要

本申请涉及一种半导体器件中接触孔的制作方法及半导体器件;其中,半导体器件中接触孔的制作方法,包括步骤:在接触孔内或接触孔底部的结构上形成接触主体层和接触辅助层,接触主体层和接触辅助层的材料不相同;刻蚀接触主体层和接触辅助层,刻蚀后剩余的接触主体层表面和接触辅助层表面作为第一界面,从而使得刻蚀后接触主体层具有与刻蚀后接触辅助层不同的高度,得到凹凸不平的第一界面;向接触孔内填充导电材料,接触孔内导电材料的底部形成与第一界面相匹配的轮廓。本申请能够增大接触孔内导电材料与接触层之间的粘聚力,提高器件性能。

著录项

  • 公开/公告号CN112750754A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长鑫存储技术有限公司;

    申请/专利号CN201911036228.5

  • 发明设计人 徐朋辉;吴公一;

    申请日2019-10-29

  • 分类号H01L21/768(20060101);H01L21/8242(20060101);H01L23/538(20060101);H01L27/108(20060101);

  • 代理机构44224 广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人虞凌霄

  • 地址 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

  • 入库时间 2023-06-19 10:51:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-27

    授权

    发明专利权授予

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