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自动对焦液晶模组围观三维立体检测光学方法

摘要

本发明提供一种自动对焦液晶模组围观三维立体检测光学方法,包括以下步骤:根据成像模块采集图像信息;根据采集到的图像信息进行三维成像,并形成三维图像信息;对三维图像信息进行图像的明暗度匹配;对匹配后的三维图像信息与预存信息进行对比,并获得对比结果;根据对比结果判断三维图像信息的缺陷位置,并将缺陷位置记录并反馈至终端。通过利用成像模块自动对焦实现了多层次拍照一部分清晰一部分模糊不清技术难题,保证采集到的整幅图像各部分均是清晰的;实现了采集到的平面图像中的图像内容是立体呈现的,还原了图像内容的真实形态。实现了从多角度,多场景对图像内容进行分析。从而解决特定缺陷不可检测和误检率高的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN112730449A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海辛玮智能科技有限公司;

    申请/专利号CN202011488969.X

  • 发明设计人 李腾腾;苗伟;

    申请日2020-12-16

  • 分类号G01N21/95(20060101);G02F1/13(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200092 上海市杨浦区铁岭路38号1层

  • 入库时间 2023-06-19 10:48:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-07-14

    授权

    发明专利权授予

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