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一种无源空腔型单晶FBAR与有源GaN HEMT的单片异质异构集成结构

摘要

本发明涉及一种无源空腔型单晶FBAR与有源GaN HEMT的单片异质异构集成结构,其包括支撑衬底、键合黏附层、已减薄的外延衬底、位于已减薄的外延衬底上GaN HEMT器件、位于支撑衬底上的空腔型单晶FBAR器件以及FBAR与GaN HEMT器件之间的互联金属。本发明通过单片异质异构集成的方式,提高了集成芯片的可靠性、功率容量和集成度,可用于实现FBAR与GaN HEMT单片集成的超低相振荡芯片、实现FBAR滤波器和GaN基功率放大器的单片集成放大器芯片,进而实现单片集成的射频前端芯片,从而提升射频前端芯片的可靠性、功率容量、集成度等性能,满足5GHz及以上频段的高性能应用需求。

著录项

  • 公开/公告号CN112542482A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 海宁波恩斯坦生物科技有限公司;

    申请/专利号CN202011392822.0

  • 发明设计人 董树荣;轩伟鹏;金浩;骆季奎;

    申请日2020-12-02

  • 分类号H01L27/20(20060101);H03H9/54(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人贾玉霞

  • 地址 314402 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座295室

  • 入库时间 2023-06-19 10:21:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-17

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L27/20 专利申请号:2020113928220 登记生效日:20230307 变更事项:申请人 变更前权利人:海宁波恩斯坦生物科技有限公司 变更后权利人:杭州树芯电子科技有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:314402 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座295室 变更后权利人:311200 浙江省杭州市萧山区宁围街道建设三路733号信息港五期一号楼205-63

    专利申请权、专利权的转移

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