公开/公告号CN112461125A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-09
原文格式PDF
申请/专利权人 北京空间机电研究所;
申请/专利号CN202011185231.6
申请日2020-10-29
分类号G01B11/00(20060101);G01C11/02(20060101);G01C11/04(20060101);G01D21/02(20060101);
代理机构11009 中国航天科技专利中心;
代理人马全亮
地址 100076 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱
入库时间 2023-06-19 10:10:17
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-02-28
授权
发明专利权授予
机译: 光学轴位置测量系统,光学轴位置测量方法,光学轴位置测量程序和光学轴位置测量设备
机译: 光学轴位置测量系统,光学轴位置测量方法,光学轴位置测量程序,光学轴位置测量装置
机译: 一种发光元件的光输出测量系统和测量方法,能够在保持相同速度的同时通过精确地测量发光元件的光学特性来减少测量时间