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基于p型掺杂金刚石散热层的GaN HEMT及制备方法

摘要

本发明公开了一种基于p型掺杂金刚石散热层的GaN HEMT及制备方法;该GaN HEMT包括自下而上设置的衬底、GaN材质的缓冲层、势垒层、介质层以及顶部散热层,还包括:源电极、漏电极以及栅电极;其中,在水平方向上,所述栅电极位于所述源电极和所述漏电极之间,所述顶部散热层位于所述栅电极和所述漏电极之间并与所述栅电极相接触;所述源电极、所述漏电极以及所述栅电极分别穿过所述介质层与所述势垒层相接触;所述栅电极的上端向所述漏电极的方向延伸,以覆盖所述顶部散热层的部分表面;所述顶部散热层为p型掺杂金刚石层。本发明可以提高GaN HEMT在微波大功率场景下的散热能力。

著录项

  • 公开/公告号CN112466943A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202011384359.5

  • 申请日2020-12-01

  • 分类号H01L29/778(20060101);H01L21/335(20060101);H01L29/06(20060101);H01L29/20(20060101);H01L23/367(20060101);H01L23/373(20060101);

  • 代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘长春

  • 地址 710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 10:08:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-18

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L29/778 专利申请号:2020113843595 申请公布日:20210309

    发明专利申请公布后的驳回

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