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指导半导体制造过程的方法和电子设备

摘要

一种指导半导体制造过程的方法包括:接收与目标半导体产品对应的半导体制造过程数据;通过使用技术计算机辅助设计(TCAD)模型来生成与半导体制造过程数据对应的第一半导体特性数据,该TCAD模型是基于包括TCAD模拟数据的训练数据通过机器学习进行训练的;通过使用紧凑模型来生成与半导体制造过程数据对应的第二半导体特性数据,该紧凑模型是基于第一半导体产品的至少一个半导体特性的测量信息来生成的;基于第一半导体特性数据和第二半导体特性数据,通过使用多个对策模型生成分别与多个对策参考对应的多个过程策略;以及基于多个过程策略提供与目标半导体产品对应的最终过程策略。

著录项

  • 公开/公告号CN112446167A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN202010876227.8

  • 申请日2020-08-27

  • 分类号G06F30/27(20200101);G06F119/18(20200101);G06K9/62(20060101);G06N3/02(20060101);G06N20/00(20190101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人岳永娟

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-06-19 10:06:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F30/27 专利申请号:2020108762278 申请日:20200827

    实质审查的生效

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