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一种通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法

摘要

本发明提出了一种通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法,获得高分辨率且均匀性好的点云数据,能够快速确定系统标定中相机、投影仪和标定板的相对位置,得到最佳的标定效果。通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法,通过标定的点云数据的均匀性、重投影误差、采集过程的测量分辨率等参数评判点云数据采集质量,解决了相机、投影仪与标定板之间的相对位置摆放的确定性问题。使用的测量分辨率计算方法使用单位像素的自然长度度量,让标定过程更加快速可靠,算法更简单,计算量小;参照显示器亮度均匀性的分布特征,提出了点云数据均匀性的计算方法,用以评价系统标定的结果,合理的评价指标的引入,让获得的点云数据更加稳定。

著录项

  • 公开/公告号CN112361989A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京印刷学院;

    申请/专利号CN202011063597.6

  • 发明设计人 梁炯;汪珊珊;潘顺;何乐;

    申请日2020-09-30

  • 分类号G01B11/25(20060101);G06T7/80(20170101);

  • 代理机构11120 北京理工大学专利中心;

  • 代理人代丽;郭德忠

  • 地址 102600 北京市大兴区兴华大街(二段)1号

  • 入库时间 2023-06-19 09:52:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-30

    授权

    发明专利权授予

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