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一种在无晶圆的真空反应腔内镀膜的方法及晶圆处理方法

摘要

本发明公开了一种在无晶圆的真空反应腔内镀膜的方法及晶圆处理方法,该镀膜方法包含以下步骤:步骤1:向无晶圆的真空反应腔内输送沉积气体并点燃等离子体,在暴露于等离子体的真空反应腔内壁及内部部件表面沉积一定厚度的保护膜;步骤2:向无晶圆的真空反应腔内输送刻蚀气体并点燃等离子体,等离子体对步骤1沉积的保护膜进行修饰处理;步骤3:重复步骤1‑步骤2若干次以得到高致密度的保护膜。本发明通过重复沉积‑刻蚀的方式在真空反应腔内表面所形成致密的保护膜,从而减小晶圆表面颗粒的尺寸和数量,工艺简单,易于实现。

著录项

  • 公开/公告号CN112289669A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中微半导体设备(上海)股份有限公司;

    申请/专利号CN201910677224.9

  • 发明设计人 耿振华;刘身健;刘志强;张洁;

    申请日2019-07-25

  • 分类号H01J37/32(20060101);

  • 代理机构31323 上海元好知识产权代理有限公司;

  • 代理人张妍;张静洁

  • 地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号

  • 入库时间 2023-06-19 09:41:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-09-29

    授权

    发明专利权授予

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